温度传感器加速寿命试验

连续测试和定制测试计划

2017年被Littelfuse收购的U.S. Sensor Corp.®致力于持续改进温度感应设备的设计和功能。每个批次的热敏电阻均要接受标称值以及曲线特征顺应性测试。此信息将添加至我们的SPC(统计过程控制)数据库。此数据库可回溯至U.S. Sensor Corp生产的第一批热敏电阻。

除了针对温度与电阻特性顺应性的性能测试外,设备还要在各种恶劣的环境、物理和电气条件下接受可靠性测试。U.S. Sensor热敏电阻进行的部分测试如下所述。

加速寿命试验(ALT)

热敏电阻被成组安装在PCB上,并暴露于腐蚀性环境中10天。在该试验中,设备将接触高浓度的CO2、SO2和H2S ,以促使产品在高度腐蚀性的环境中出现故障。Littelfuse已开发出能够使我们的热敏电阻在不出现故障的情况下通过此测试的制造技术。

盐水测试

成组的热敏电阻需经受温度循环,并浸入清水和盐水中。盐水浴和清水浴的准备温度分别为0°C和65°C。两个温度之间的转换时间缩至最短(低于十秒)以实现转换态最大化。完成测试时,温度与电阻特性必须保持在公差范围内。设备的绝缘电阻也会进行测试。

热冲击:200次循环

热敏电阻需要经受1.5小时80°C的高温,在十秒内完成转换,并经受1.5小时-40°C的低温。完成这项测试之后通常会进行100,000次循环的热冲击测试。

热冲击:100,000次循环

此测试包括45秒20°C高温和45秒-20°C低温。温度之间的转换时间被缩短至十秒以内以实现转换态最大化。完成测试时,热敏电阻必须保持在公差范围内。