温度传感器产品的认证寿命测试

定制热敏电阻和RTD探头组件

2017年被Littelfuse收购的U.S. Sensor Corp.®生产全系列定制探头组件。 凭借在热敏电阻和RTD领域的丰富经验以及对探头组件的广泛测试，Littelfuse成为了定制探头设计制造商最理想的选择。

当探头暴露于温度循环及以下条件时，很多灌封设计都可能出现故障，这在U.S. Sensor可谓无人不知。

1. 恒定的高湿度
2. 冷凝湿度
3. 恒定或间歇性的潮湿环境

无论热敏电阻或RTD的灌封多么严密或多么深，探头在上述条件下都有可能发生水分侵入。 尽管水分侵入一般不会导致温度传感器发生故障，但如果在潮湿环境中进行电阻测量，可能会使水分的导电性对电阻读数造成显著影响。 这将导致测量装置获得错误读数。

Littelfuse已开发出能够防止水分侵入发生的密封方法。 我们的专有工艺已在众多应用中被证明具有可靠性。

我们的探头设计也已经过环境、电气和物理测试，证明了设计的耐久性。 下面是探头设计的典型合格测试。

• 对-40到180°C的读数进行序列化并加以记录
• 热冲击10次循环，-40至180°C（极限温度下至少保持30分钟，极限温度之间保持的时间不超过30分钟）。
• 在140°C和80%的最大额定电流下热浸100小时。
• 振动测试
• 冲击和跌落
• 记录-40到180°C之间的读数

Littelfuse的部件已经通过了这些测试，并且探头平均温度测量值的变化仅为±0.03°C（典型值），公差为±1.0°C

右侧所示探头进行了上述合格测试。 黄铜明显生锈，但平均温度漂移小于0.03°C。